Студент второго года обучения Института физики и химии ФГБОУ ВПО «МГУ им. Н.П. Огарева». Область научных интересов – растровая электронная микроскопия, композитные материалы, материалы силовой электроники. E-mail: gorbunovdiman94@mail.ru. Научный руководитель: Нищев Константин Николаевич, кандидат физико-математических наук, доцент, заведующий кафедрой общей физики, директор Института физики и химии ФГБОУ ВПО «МГУ им. Н.П. Огарева». E-mail: nishchev@inbox.ru
-
Опубликовано 23.11.2015 в 22:58
В статье представлены результаты исследования микроструктуры и адгезионных свойств спеченных слоев серебросодержащих паст (СП), применяемых в технологиях производства силовых полупроводниковых приборов для низкотемпературного соединения электрически активной кремниевой структуры (КС), содержащей p-n-переходы, с молибденовым термокомпенсатором (МТ). Микроструктура границ между спеченным слоем СП и металлизированными поверхностями КС и МТ, а также границы между спеченным слоем СП и … Прочесть целиком →
-
Опубликовано 30.12.2014 в 18:02
В статье представлены результаты исследований методами растровой электронной микроскопии и рентгеновской микротомографии микроструктуры волокнистого полимерного композиционного материала (ВПКМ) марки Дюростон, применяемого для изготовления опорно-крепежных элементов в силовой электронике. В структуре полимерной матрицы композита обнаружены включения сферической формы с рентгеновской плотностью меньшей, чем рентгеновская плотность матрицы, и уплотненной оболочкой. Данные включения идентифицированы как газовые образования, возникающие … Прочесть целиком →
-
Опубликовано 30.12.2014 в 18:02
В статье приведены результаты исследования механических свойств волокнистого полимерного материала (ВПКМ) Дюростон, применяемого в силовой электронике для изготовления опорно-крепежных элементов. Исследования проводились с целью определения роли границ раздела «матрица-волокно» в прочностных свойствах ВПКМ. В интервале температур от 20 °С до 200 °С проведены механические испытания исследуемых образцов на растяжение и сжатие. С использованием растровой электронной … Прочесть целиком →
-
Опубликовано 02.07.2014 в 22:03
Методом химического травления, травления фокусированным ионным пучком, растровой электронной микроскопии и сканирующей зондовой микроскопии определена структура и элементный состав многослойных металлических покрытий, используемых в качестве переходного омического интерфейса в контактной системе структур мощных силовых полупроводниковых приборов. Исследуемые металлические покрытия наносились на поверхность кремниевых структур по технологии магнетронного напыления. Полученные результаты демонстрируют эффективность совместного применения методов … Прочесть целиком →