Огарёв-online

серебросодержащая паста

• Применение РЭМ для исследования структуры и адгезионных свойств спеченных слоев серебросодержащих паст

  Опубликовано 23.11.2015 в 22:58
  Автор: Горбунов Дмитрий Сергеевич,Мишкин Владимир Петрович,Нищев Константин Николаевич,Новопольцев Михаил Ильич
  Ключевые слова: L-отслаивание, адгезия, растровая электронная микроскопия, серебросодержащая паста, силовые полупроводниковые приборы, спекание
  Выпуск: Физико-математические науки - Выпуск 23

  В статье представлены результаты исследования микроструктуры и адгезионных свойств спеченных слоев серебросодержащих паст (СП), применяемых в технологиях производства силовых полупроводниковых приборов для низкотемпературного соединения электрически активной кремниевой структуры (КС), содержащей p-n-переходы, с молибденовым термокомпенсатором (МТ). Микроструктура границ между спеченным слоем СП и металлизированными поверхностями КС и МТ, а также границы между спеченным слоем СП и … Прочесть целиком →

• Исследование структурных изменений при спекании серебросодержащих паст

  Опубликовано 23.11.2015 в 22:58
  Автор: Кяшкин Владимир Михайлович,Макеев Сергей юрьевич,Нищев Константин Николаевич,Новопольцев Михаил Ильич
  Ключевые слова: дефект структуры, микродеформация, перколяционные эффекты, размеры ОКР, серебросодержащая паста, удельная электропроводность
  Выпуск: Физико-математические науки - Выпуск 23

  Исследованы изменения средних размеров областей когерентного рассеяния (ОКР), величины микродеформаций и удельной электропроводности слоев серебросодержащих паст двух марок, спеченных при давлении 10 кПа и температуре 250°С (0,42 Тпл). Показано, что электропроводность спеченных слоев возрастает с увеличением размеров ОКР. В качестве возможных причин данных изменений называются уменьшение концентрации дефектов и увеличение площади межчастичных контактных площадок, происходящие … Прочесть целиком →