Обзор устройств для измерения значений параметров и характеристик силовых полупроводниковых приборов в состоянии низкой проводимости

Опубликовано 15.07.2014 в 13:27
УДК: 621.315.592

В данной статье рассмотрены существующие устройства для измерения значений параметров и характеристик силовых полупроводниковых приборов (СПП) в состоянии низкой проводимости. Показана актуальность создания современного многофункционального и универсального оборудования для диагностики СПП.

A REVIEW OF DEVICES FOR PARAMETER MEASUREMENT OF POWER SEMICONDUCTORS IN A LOW CONDUCTIVITY

This article considers the current devices to measure power semiconductors in a low conductivity state. The authors demonstrate an acute need to desing an up-to-date general-purpose device to test power semiconductors.

Библиографический список
Выходные данные статьи: Беспалов Н. Н., Ильин М. В., Капитонов С. С., Смолин А. Н. Обзор устройств для измерения значений параметров и характеристик силовых полупроводниковых приборов в состоянии низкой проводимости [Электронный ресурс] // Огарев-online. – 2014. – №22. – Режим доступа: http://journal.mrsu.ru/arts/obzor-ustrojjstv-dlya-izmereniya-znachenijj-parametrov-i-kharakteristik-silovykh-poluprovodnikovykh-priborov-v-sostoyanii-nizkojj-provodimosti